スパースモデリングと電顕

　ブラックホールの像の解析や、X-CTの画像再構成に使われるスパースモデリング。

　どう考えても電顕の画像処理に使えるのでトライしていきたい。

　一番有望そうなのは、ダメージに弱い物質を少ない観察点で測定することなんだけれど、スパースモデリングの有効な画像の特徴として、

　・複数の個所で強度がゼロであるような系（単純なSNRの悪い像ではない）

　・強度ゼロの場所が周期的でない系

と聞いている（参考文献を出せない無能さ。あぁ・・・）。

　この特徴を見る限り、STEMの画像スキャンのアルゴリズムを変える必要があるわけで、普通にやると厳しそう。DMのスクリプトで書けるんかな？？？

　もう一つの応用先として、EDSマップの画質向上がある。強度ゼロの場所が結構ランダムに出てくるので有望な気もするが、強度ゼロでない場所のSNRがかなり悪かったりするので、使えるのか謎。EDS信号はポアソン分布で再現できるそうなので、モデルデータを作って試してみても良いのかもしれない。ハードウェア側で解決するなら、測定点数を絞って、その位置をランダム配置することなんだと思うが、やはりハードルは高そう。

スパースモデリング、勉強してみるかなぁ・・・。